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日本電測densoku便攜式薄膜膜厚計QNIx系列介紹
日本電測densoku便攜式薄膜膜厚計QNIx系列介紹
便攜式膜厚儀，可輕松提高麻煩的膜厚測量的生產效率
QNIx系列產品允許您僅使用超輕型緊湊型儀器和探頭即可測量薄膜厚度，而無需攜帶笨重的薄膜厚度計。
無線測量無需電纜。它有助于將測量數據傳輸到PC，也有助于防止測量過程中掉落事故。
QNIx系列功能
無需進行膜校準即可進行精確的膜厚度測量
出廠時輸入了16點校準數據。這樣就無需進行麻煩的薄膜打樣工作，并且可以進行精確的薄膜厚度測量。
膜厚測量數據傳輸的新技術
在傳統的測量儀器中，測量儀器通過電纜連接到個人計算機以傳輸測量數據。QNIx系列使用“無線加密gou”，只需將其插入USB端口即可進行傳輸。您可以更快，更輕松地瀏覽測量數據。
超輕便的無線測量儀
探頭測得的數據被無線發送到主機。它降低了被電纜卡住，像傳統產品一樣妨礙或導致跌落事故的風險。此外，該探頭重30克，非常輕巧，因此您無需攜帶笨重的儀器。
一種不易折斷且不會在測量對象上留下痕跡的探針。
QNIx系列探頭被增強塑料包圍，耐用性提高了30％。即使發生極少數的故障，拆卸和維修也很容易，因此縮短了維修時間。此外，它配備有紅寶石芯片，可以安全地進行測量，而不會損壞要測量的對象（樣品）。
QNIx系列比較規格表
| QNIx 8500 | QNIx 4500/4200 | QNIx 7500 | QNIx Carcheck系統 | QNIx方便 | |
| 可測量的電影 | [F]黑色金屬上的非磁性涂層 [N]黑色金屬上的非導電涂層 [FN]黑色/黑色材料上的非磁性/非導電涂層 | [FN]黑色金屬和有色金屬材料上的非磁性和非導電涂層 | [FN]鐵/鋁材料上的非磁性/非導電膜厚度 | ||
| 材料識別 | 黑色金屬和有色金屬的 自動識別和交換 | 黑色金屬和有色金屬的 自動識別和交換 | 用戶的轉換 | 黑色金屬和有色金屬的 自動識別和交換 | 鐵/有色，自動識別模式轉換 |
| 測量原理 | [F]磁通量（霍爾效應） [N]渦流 | ||||
| 測量范圍 | 0至2,000μm （可選：5,000μm） | 0至3,000μm | 0至2,000μm （可選：5,000μm） | 0至5,000μm | 0?500微米 |
| zui高 分辨率 | 0.1μm，1μm [M] 0.01μm | 1微米 | 0.1微米 | 0.1微米，1微米 | 5微米 |
| 配置格式 | 0點校正 用戶校準：1 [M] 100 | 0點校正 | 0點校正 | 沒有校準功能 | 沒有校準功能 |
| 準確度 | ±（1微米+ 2％） ±3.5％ （2毫米或更多） [T] ± （0.3微米+ 2％） | ±（2μm+ 3％） | ±（1微米+ 3％） | ±（1μm+ 2％） ±3.5％ （2mm以上） | ±（10微米+ 5％） |
| 測量速度 | 1,500ms （大約40次/分鐘） [T] 920ms （大約65次/分鐘） [R] 1,600ms （大約37次/分鐘） | 600ms （約70次/分鐘） | 1,300ms （約46次/分鐘） | 1,500ms （約40次/分鐘） | 600ms （約100次/分鐘） |
便攜式薄膜測厚儀的型號代碼指南
[F]黑色金屬材料的非磁性膜厚度測量
[N]有色金屬材料的非導電膜厚度測量
[FN]用一根探針測量黑色金屬和有色金屬材料上的膜厚
[T]微型探針
[M]測量數據存儲功能，數據傳輸到PC
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