光電器件檢測光纖輸出多波長高功率LD光源

光電器件檢測光纖輸出多波長高功率LD光源

1. 高功率 & 多波長
   15 mW–100 mW 連續可調（波長不同功率上限不同），可選 375 nm–1064 nm 共 14 種標準波長，覆蓋紫外到近紅外，可針對不同光學鍍膜、材料或探測器響應波段做匹配測試

   。
2. 1 m 多模光纖輸出
   采用 SI105/125 μm、NA0.22 多模光纖，末端 FC/PC 連接器，出光斑直徑≈0.8 mm，可直接對準 PD、PMT、光纖跳線或光學鏡片，實現“非接觸"定點照射，避免空間對準誤差

   。
3. 溫控 + 恒流雙環路
   內部 TEC 把 LD 芯片穩定在 ±0.05 °C，功率漂移＜±2 %，波長漂移＜±0.05 nm，保證長時間掃描或重復性測試數據一致

   。
4. 脈沖/連續雙模式
   外接 TTL 可觸發 0–1 kHz 脈沖，占空比 0–100 % 可調，方便測量探測器響應時間、飽和特性或熒光壽命 。
5. 手掌大小、自然空冷
   70 × 50 × 100 mm、400 g，無需外置散熱；AC 100–240 V 全球電壓，可直接放在顯微鏡平臺、探針臺或積分球支架上

   。
6. 典型檢查場景
• PD/PMT 量子效率掃描：固定波長步進 1 nm，記錄響應電流
• 光纖跳線損耗測試：375 nm 或 405 nm 端面照射，測量輸出端功率
• 濾光片/透鏡透射率：單波長通過樣品前后功率比對
• 相機模組對準：520 nm 或 635 nm 光纖出射，作為亞像素級基準點