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產品資料
首頁 >>> 產品中心 >>> 儀器儀表 >>> 電阻測試儀 >>> D1-11N系列 1405臺式材料級高阻計超高阻絕緣性能測試儀

臺式材料級高阻計超高阻絕緣性能測試儀

產品名稱: 臺式材料級高阻計超高阻絕緣性能測試儀
產品型號: D1-11N系列 1405
產品特點: 臺式材料級高阻計超高阻絕緣性能測試儀
日本 Musashi 武藏 D1-11N系列 405絕緣電阻測試儀 → 再次精煉,一頁看懂
定位
臺式「Tera-Ohmmeter」= 材料級高阻計,測絕緣電阻 / 漏電流 / 體電阻 / 表面電阻,面向電池隔膜、OLED、PCB、薄膜、電容器等超高阻樣品。
硬指標(405型)
電壓:1 V – 1 000 V(1 V 步)
電阻:1 kΩ – 10 PΩ(1

臺式材料級高阻計超高阻絕緣性能測試儀 的詳細介紹

臺式材料級高阻計超高阻絕緣性能測試儀

臺式材料級高阻計超高阻絕緣性能測試儀

日本 Musashi 武藏 D1-11N系列 405絕緣電阻測試儀 → 再次精煉,一頁看懂定位臺式「Tera-Ohmmeter」= 材料級高阻計,測絕緣電阻 / 漏電流 / 體電阻 / 表面電阻,面向電池隔膜、OLED、PCB、薄膜、電容器等超高阻樣品。硬指標(405型)電壓:1 V – 1 000 V(1 V 步)電阻:1 kΩ – 10 PΩ(101? Ω)電流:0.1 fA – 1 mA精度:≤ ±1 %(≤10 TΩ)采樣:最高 1 kHz接口:USB / RS-232 / LAN(選)核心功能① fA 級漏電流(0.1 fA 分辨率)② 自動極性反轉 PIV,消除極化誤差③ 斜坡掃描 0.1-100 V/s,捕捉擊穿 V④ 體/面電阻率自動切換(加環形電極箱)⑤ 同步溫濕度記錄,一鍵生成 IEC/ASTM 報告典型應用 & 判定例鋰電池隔膜:1 000 V 下 ρv > 1 TΩ·cm薄膜電容:500 V 漏電流 < 1 nAOLED 封裝:100 V 漏電流 < 1 pAPCB 基材:表面電阻 > 1012 Ω/□規格一覽尺寸 W260 × D380 × H140 mm,6.2 kg7 英寸觸控,中/英/日菜單附 10 GΩ / 1 TΩ 標準電阻,30 s 自校12 個月 JCSS 溯源,符合 JIS C 1302 / IEC 60093 / ASTM D257一句話D1-11N-405 = 材料實驗室的“臺式 tera-ohmmeter":1 V-1 kV、10 PΩ、0.1 fA,fA 級漏電流、斜坡擊穿、體/面電阻率一鍵完成,專為超高阻絕緣性能測試設計。日本 Musashi 武藏 D1-11N系列 405絕緣電阻測試儀 → 再次精煉,一頁看懂定位臺式「Tera-Ohmmeter」= 材料級高阻計,測絕緣電阻 / 漏電流 / 體電阻 / 表面電阻,面向電池隔膜、OLED、PCB、薄膜、電容器等超高阻樣品。硬指標(405型)電壓:1 V – 1 000 V(1 V 步)電阻:1 kΩ – 10 PΩ(101? Ω)電流:0.1 fA – 1 mA精度:≤ ±1 %(≤10 TΩ)采樣:最高 1 kHz接口:USB / RS-232 / LAN(選)核心功能① fA 級漏電流(0.1 fA 分辨率)② 自動極性反轉 PIV,消除極化誤差③ 斜坡掃描 0.1-100 V/s,捕捉擊穿 V④ 體/面電阻率自動切換(加環形電極箱)⑤ 同步溫濕度記錄,一鍵生成 IEC/ASTM 報告典型應用 & 判定例鋰電池隔膜:1 000 V 下 ρv > 1 TΩ·cm薄膜電容:500 V 漏電流 < 1 nAOLED 封裝:100 V 漏電流 < 1 pAPCB 基材:表面電阻 > 1012 Ω/□規格一覽尺寸 W260 × D380 × H140 mm,6.2 kg7 英寸觸控,中/英/日菜單附 10 GΩ / 1 TΩ 標準電阻,30 s 自校12 個月 JCSS 溯源,符合 JIS C 1302 / IEC 60093 / ASTM D257一句話D1-11N-405 = 材料實驗室的“臺式 tera-ohmmeter":1 V-1 kV、10 PΩ、0.1 fA,fA 級漏電流、斜坡擊穿、體/面電阻率一鍵完成,專為超高阻絕緣性能測試設計。

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